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冷冻样品杆

可用于低温观察原位相变的冷冻样品杆

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可用于低温观察原位相变的冷冻样品杆

优点: 

冷冻样品杆适用于需要低温观察原位相变的应用,同时冷冻也可以降低样品表面碳迁移速率从而抑制样品污染

  • 减少样品的污染和电子束损伤,减少各种分析技术中不必要的热效应,有助于 X 射线能谱 (EDS) 和电子能量损失能谱法 (EELS) 分析
  • 用于 EDS 应用时,样品杆头部的几何形状经过优化设计,减少 EDS 分析的阴影
液氮冷冻样品杆
型号     最低工作温度     铍压片     样品定位     样品固定     电动控制     法拉第杯     最大引电极数(选配)
613 低于-170 °C   α 倾斜   Hexring®
机制
  选配 6
636 低于-170 °C   α、β 倾斜   Hexring 
机制
β 倾斜 选配 0

 

液氦冷冻样品杆
型号    最低工作温度    铍支架    样品定位    样品固定    电动控制    最大引电极数(选配)
HCHST3008 20 K 选配   α 倾斜 固定环1   4
HCHDT3010 20 K 选配   α、β 倾斜 固定环1 β 倾斜 42
ULTST 6 K 选配   α 倾斜 固定环1   4
ULTDT 6 K 选配   α、β 倾斜 固定环1 β 倾斜 42

多功能冷冻样品杆
型号   最低工作温度   铍支架   样品定位   样品固定   专用功能   电动控制   最大引电极数
671 低于-170 °C   α 倾斜  Hexlok 固定
螺丝
拉紧 拉紧 0
CHVT3007 低于-170 °C 选配 α 倾斜 固定环1 真空转移   0
1 分析配置采用 Hexring 机制。
2 采用电学连接的配置是此样品杆的特殊版本。
3 样品杆包含电极连接。
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